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国产碳化硅 就找明古微
技术学院
STUDY
在新能源汽车电驱系统向 800V + 高压平台、高功率密度、高效率方向演进的过程中,碳化硅(SiC)功率器件的性能发挥高度依赖封装技术。传统框架式、注塑式封装因引线键合带来的长互联路径,导致寄生参数过大,已成为制约 SiC 器件高频、高速开关特性充分释放的核心瓶颈。嵌入式 PCB 封装技术(Embedded PCB Packaging)通过将 SiC 芯片直接埋嵌于 PCB 基板内部,实现了功率模块互联路径的极致缩短与结构的高度集成,为车载高压功率模块的性能跃升提供了全新解决方案。本文将从技术机理、性能优势、拓扑拓展、量产瓶颈及解决方案等维度,对该技术进行深度解析。
嵌入式 PCB 封装的本质是打破芯片与基板的传统互联范式,摒弃引线键合(Wire Bonding)与倒装焊(Flip Chip)的外部互联方式,将 SiC 裸芯片直接埋入 PCB 基板的内嵌腔体内,通过 PCB 的金属化过孔、埋入式导线实现芯片与外部电路的电气连接,形成 “芯片 - PCB 基板 - 互联结构” 一体化的封装形式。
芯片埋嵌工艺
互联路径优化
散热结构设计
采埃孚(ZF)推出的嵌入式逆变器功率模块,采用该技术实现了极致的结构紧凑性:封装尺寸仅为 2 个 iPhone 16 并排大小(约 180mm×70mm),却能实现 600A 的有效输出电流,功率密度达到传统框架式模块的 2-3 倍,验证了嵌入式 PCB 封装在车载高压场景的工程可行性。

图片来源:NE时代
SiC 器件作为第三代宽禁带半导体,其开关速度可达传统硅(Si)器件的 10 倍以上,di/dt 可达到 1000A/μs 级别。在传统封装中,引线键合的电感(典型值为 10-30nH)与长距离电流走线的寄生电感叠加,会在开关过程中产生显著的电压尖峰:Vspike=Lparasitic×di/dt当电压尖峰超过 SiC 器件的阻断电压(V_DSS)时,会导致器件雪崩击穿,同时引发电磁干扰(EMI)超标、后端负载故障等连锁问题。
通过将芯片埋入 PCB 内部,电流回路长度大幅缩短,寄生电感可降低至纳亨级(~1nH),相较于传统封装降低 80% 以上。这一突破从根本上解决了 SiC 器件高速开关与寄生电感的矛盾,使器件的开关损耗降低、EMI 特性优化,为 800V 高压平台的稳定运行提供了关键保障。

在 800V SiC 功率模块的 WTC 循环损耗测试中,嵌入式 PCB 封装相比传统框架式封装表现出压倒性优势:
在满足相同输出功率要求的前提下,嵌入式封装的紧凑结构与高效能效,可使 SiC 芯片的用量比框架式模块减少20%-30%。以 800V 车载逆变器为例,传统模块需 4-6 颗 1200V/200A SiC MOSFET,而嵌入式模块仅需 3-4 颗即可实现同等性能,直接降低核心器件的采购成本。
嵌入式封装通过构建垂直散热路径,芯片产生的热量可直接通过底部烧结层、PCB 金属化散热过孔传递至外部散热器,相比传统封装的横向散热路径,热阻降低 30%-40%,有效提升模块的功率循环寿命与长期可靠性。

传统框架式封装因结构刚性强、互联路径固定,难以实现复杂的电路拓扑设计。嵌入式 PCB 封装凭借 PCB 基板的高度布线灵活性,为车载功率模块的拓扑创新提供了可能:
三电平拓扑相比传统两电平拓扑,具有输出电压谐波小、开关损耗低、器件电压应力小等优势,但需要更复杂的互联结构与器件布局。嵌入式 PCB 封装通过多层布线与芯片埋嵌的灵活设计,可实现三电平混碳拓扑的紧凑集成,使模块的效率进一步提升 2%-3%。
嵌入式封装支持功率模块与母线电容、驱动板、传感器的一体化集成,形成 “功率单元 - 控制单元 - 储能单元” 的高度集成模块。舍弗勒(Schaeffler)已基于该技术推出 800V SiC 嵌入式集成模块,将功率器件、母线电容与高压驱动板集成于单一 PCB 基板,模块体积较传统方案缩小 40%。

尽管嵌入式 PCB 封装优势显著,但在 800V 及以上高压大功率车载领域,量产落地仍面临多重技术挑战,核心集中在材料适配性、绝缘可靠性、工艺稳定性三大维度。
PCB 基板材料(如 FR-4,CTE 约为 15-20ppm/℃)与 SiC 芯片(CTE 约为 3.5ppm/℃)的热膨胀系数存在巨大差异,在封装过程的高温工艺(如烧结银固化温度 250℃、PCB 层压温度 180℃)与服役过程的温度循环中,会产生显著的热应力:

这一问题在高压模块中更为突出,当电压跃升至 800V 及以上时,热应力引发的界面失效会直接导致模块短路。
嵌入式封装的芯片埋嵌结构导致高压线路的爬行距离(沿绝缘表面的最短距离)大幅缩短,而车载高压模块的耐压等级要求达到 1200V 以上。根据 IEC 60664 标准,1200V 高压系统的最小爬行距离需达到 8mm 以上,而嵌入式封装的实际爬行距离往往不足 3mm,存在严重的绝缘击穿风险。

800V 及以上高压场景下,嵌入式模块出现了传统封装未遇到的新型失效模式,如沿面放电、电迁移、绝缘层老化等,其作用机理、失效判据及应对策略尚未完全明确,缺乏成熟的可靠性验证标准。
嵌入式封装需要 PCB 基板的铜层厚度达到 30-50μm,以满足大电流载流能力要求。但在厚铜层电镀过程中,电镀应力会导致 PCB 基板发生翘曲,进而带动埋入的 SiC 芯片产生超过 100μm 的翘曲量,超过芯片的许用翘曲极限(通常为 50μm),导致芯片晶格损伤、性能退化。
芯片与 PCB 腔体的连接通常采用烧结银工艺,烧结银的致密度、界面结合强度直接影响模块的散热性能与可靠性。但在批量生产中,烧结温度、压力、保温时间的微小波动都会导致烧结质量的差异,难以实现大规模一致性控制。
PCB 内嵌腔体的制作依赖激光打孔技术,需要实现微米级的精度控制。但在批量生产中,激光功率的衰减、PCB 材料的不均匀性会导致腔体尺寸偏差,影响芯片的埋嵌精度与互联可靠性。
针对上述量产瓶颈,行业已形成多种技术方案,可分为绝缘方案与工艺优化方案两大类别。
技术核心:将传统的导热绝缘层替换为高导热 PP 材料(如改性聚丙烯,导热系数≥1W/m・K),通过 PP 材料的层压工艺实现芯片与 PCB 基板的绝缘隔离,同时提供一定的导热能力。优势:工艺成熟、成本较低、可与现有 PCB 层压工艺兼容,是当前最具量产潜力的绝缘方案。局限:导热性能有限,难以满足高功率密度模块的散热需求;长期高温服役下,PP 材料易老化,绝缘性能下降。

技术核心:采用绝缘陶瓷部件(如氮化铝 AlN、氮化硅 Si3N4,导热系数≥100W/m・K)作为芯片与 PCB 基板的绝缘层,陶瓷材料兼具高绝缘性、高导热性与低 CTE 特性,与 SiC 芯片的 CTE 匹配性更好。优势:绝缘性能优异、导热能力强、热稳定性好,是高压大功率车载场景的理想方案。局限:陶瓷部件的制备工艺复杂、成本高昂;陶瓷与 PCB 基板的连接难度大,批量生产的一致性控制困难。

图片来源:NE时代
技术核心:不设置专门的绝缘层,直接将芯片埋入 PCB 基板。应用场景:仅适用于 48V 低压场景,如车载 DC-DC 转换器、辅助电源等,无法满足高压车载需求。

图片来源:NE时代
英飞凌(Infineon)
采埃孚(ZF)
舍弗勒(Schaeffler)
国内企业
短期(1-2 年)
中期(3-5 年)
长期(5-10 年)
嵌入式 PCB 封装技术通过芯片埋嵌与互联路径优化,实现了车载 SiC 功率模块寄生参数的极致抑制、能效的大幅提升与拓扑的灵活拓展,是高压平台下电驱系统性能跃升的核心支撑技术。尽管当前面临材料适配、绝缘可靠、工艺稳定等量产瓶颈,但随着 PP 内绝缘方案的成熟、MB 陶瓷方案的突破以及材料与工艺的持续创新,该技术必将在未来 3-5 年内实现规模化量产,推动新能源汽车电驱系统向更高功率密度、更高效率、更低成本方向发展。对于碳化硅器件产业链而言,嵌入式 PCB 封装不仅是封装环节的技术革新,更是芯片设计、基板材料、工艺装备等上下游环节的协同创新机遇,将重构车载功率模块的产业竞争格局。
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